薄膜数显测厚仪 铝膜厚度测量仪 片材台式测厚仪

薄膜数显测厚仪 铝膜厚度测量仪 片材台式测厚仪

在现代工业生产中，薄膜材料的应用日益广泛，从包装材料到电子产品的保护膜，薄膜的质量和性能直接影响到Zui终产品的品质。薄膜的厚度是其物理性能的重要指标之一，因此，对薄膜进行准确的厚度测量是保证产品质量的重要步骤。

为什么需要对薄膜进行测厚测试？

薄膜的厚度不仅关系到其保护性能，还影响着其透光性、透气性等物理特性。例如，在食品包装领域，薄膜的厚度可以决定其对氧气和水分的阻隔能力，进而影响到食品的保质期。在电子行业，薄膜的厚度则关系到电子器件的绝缘性能和稳定性。因此，对薄膜进行准确的厚度测量，可以确保材料的性能符合设计要求，提高产品的可靠性和安全性。

为什么选择薄膜数显测厚仪？

济南三泉中石的薄膜数显测厚仪，以其高效、准确、稳定的特点，成为薄膜厚度测量的工具。以下是选择台式薄膜测厚仪的几个主要原因：

高精度测量：采用高精度位移传感器，确保测量结果的准确性。

稳定性和重复性：通过科学的结构设计和高精测控控制技术，保证了测量过程的稳定性和重复性。

适用性广泛：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等多种材料的厚度测量。

符合标准要求：严格执行机械接触式测厚相关标准，确保测量结果的可靠性。

薄膜数显测厚仪的工作原理

薄膜数显测厚仪采用机械接触式测量原理，通过位移传感器检测薄膜在受压时的位移变化，从而计算出薄膜的厚度。这种测量方式具有以下特点：

接触式测量：直接与薄膜接触，避免了空气间隙等非接触式测量可能带来的误差。

结构设计：仪器的结构设计保证了测量时的稳定性，减少了外部因素对测量结果的影响。

控制技术：高精测控技术确保了测量过程的控制，提高了测量的重复性。

薄膜数显测厚仪的应用范围

技术参数

测量范围 0-2mm （其他量程可定制）

分辨率 0.1um

测量速度 10次/min（可调）

测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

接触面积 50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调)

进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调)

机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高)

重 量 23Kg

工作温度 15℃-50℃

相对湿度 80%,无凝露

试验环境 无震动，无电磁干扰

工作电源 220V 50Hz

济南三泉中石的薄膜数显测厚仪以其高精度、稳定性和广泛的适用性，在薄膜材料的厚度测量中发挥着重要作用。它不仅提高了生产过程中的质量控制水平，也为产品的Zui终性能提供了保障。随着工业技术的发展和产品质量要求的提高，台式薄膜测厚仪将继续作为薄膜测量领域的重要工具，为各行各业提供可靠的测量解决方案。

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